Agilent E4990A怎么测陶瓷材料介电性能？

1. 首先，Agilent E4990A可以测量材料的电容C、介电损耗D，电感L、电阻R等参数值。
2. 如果需要测陶瓷材料的介电性能，只需在仪器上设置电容C和介电损耗D值两个参数，之后再通过样品的尺寸信息（样品厚度、样品直径）计算介电常数值。
3. 如果需要测陶瓷材料的高温介电性能，则需要配合高温测试平台、高温介电夹具、以及高温介电温谱测量系统软件来完成测量任务，也就是一整套高温介电温谱测量系统来完成实验。
4. 三琦高温介电温谱测量系统是为了满足材料在高温环境下的介电性能测量需求而设计的。它由硬件设备和测量软件组成，包括高温测试平台、高温测试夹具、阻抗分析仪和高温介电测量系统软件四个组成部分。
5. 高温测试平台是为样品提供一个高温环境；高温测试夹具提供待测试样品的测试平台；阻抗分析仪则负责测试各组参数数据。最后，再通过测量软件将这些硬件设备的功能整合在一起，形成一套由实验方案设计到温度控制、参数测量、图形数据显示与数据分析于一体的三琦高温介电温谱测量系统。

晶相的概念

晶相是结晶的微观结构，由晶体中高分子链的构象及其排布所决定，种类有：单晶、球晶、树枝状晶、孪晶、伸直链片晶、纤维状晶、串晶等。主要研究工具有：光学显微镜、电子显微镜等。
　　1、其中含量多者称为主晶相，含量少的称次级晶相或第二晶相。有时在晶界上还可能发现有第二晶相存在，它的存在一般需用X射线结构分析如X射线图，能谱分析，晶格条纹像等进行确定。陶瓷材料的晶体主要是单一氧化物(如Al2O3，MgO)和复合氧化物(如尖晶石MgO·Al2O3，锆钛酸铅Pb(Zr,Ti)O3)。此外，非氧化物陶瓷材料中还有碳化物、氮化物、硼化物、硅化物等相应组分的晶体存在。陶瓷材料的性能和主晶相的种类、数量、分布及缺陷状况等密切有关。
　　2、是指金属或金属镀层表面组织结构，通常在表面抛光出一个小面，然后放在金相显微镜下观察。金属可以用热处理等方法改变晶相。

为什么陶瓷电容会有漏电流？

不只是陶瓷电容，几乎所有电容都有漏电流。只是大小的区别。人们无法找到绝缘电阻无穷大的介质材料。电容介质的绝缘能力都是相对的。自然陶瓷也不例外。
本人亲见过在高温下陶瓷材料漏电而使设备无法正常工作的情况。